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Talysurf CCI三維形貌儀非接觸輪廓儀 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測(cè)量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀 型號(hào)：SURTRONIC DUO 探頭系統(tǒng)：探頭系統(tǒng) 表面粗糙度測(cè)量范圍：199μm，40μm 掃描路徑：5mm 表面粗糙度分辨率：0.01μm 閾值波長(zhǎng)：0.8 mm

Taylor Hobson英國(guó)制造 新的Surtronic®S-100系列具有多功能性，可滿足大量表面測(cè)量應(yīng)用的粗糙度要求。Surtronic S-128是Surtronic®S-100系列兩個(gè)型號(hào)中的款。它具有一個(gè)50mm的觸控筆電動(dòng)機(jī)，具有直角連接和超過(guò)70mm的觸針距離，即使是*挑戰(zhàn)性的表面測(cè)量，也不需要使用昂貴的升降器，擋塊，支架或固定裝置。實(shí)用和

Surtronic S100 新型Surtronic S-100系列儀器能夠?yàn)槟拇植诙葴y(cè)量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統(tǒng)和應(yīng)用相關(guān)配件，并且能夠 針對(duì)特殊應(yīng)用的配件定制工裝。

Surtronic DUO 英國(guó)Taylor粗糙度儀如何工作 Surtronic Duo是便攜式的 測(cè)量表面粗糙度測(cè)試儀 多個(gè)粗糙度參數(shù)與1按鈕 單擊。 粗糙度測(cè)量參數(shù) 例如Ra，Rz，Rp，Rv和Rt 一個(gè)明亮的直觀2.4“LCD彩色顯示屏。 其可充電電池操作使其成為一個(gè) 方便快捷，方便快捷 幾乎的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量 任何環(huán)境和表面。

泰勒霍普森形狀（輪廓）和表面粗糙度測(cè)量?jī)x 強(qiáng)大的測(cè)量能力：表面粗糙度、輪廓和 3D 測(cè)量： » 表面細(xì)節(jié) - 高分辨率傳感器和低噪音軸能夠?qū)崿F(xiàn)粗糙度和波紋度測(cè)量。 » 輪廓 - du家**權(quán)的校準(zhǔn)技術(shù)能夠?qū)崿F(xiàn)半徑、角度、高度、長(zhǎng)度、距離等準(zhǔn)確測(cè)量。 » 3D - 使用可選的自動(dòng) Y 移動(dòng)臺(tái)和 Talymap 軟件 , 能夠輕松的將傳統(tǒng)的2D測(cè)量轉(zhuǎn)換為3D 測(cè)量工具。